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產品展示
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  • AlignMeter激光準直儀
    AlignMeter激光準直儀 通用性：可測量光束位置（直徑高達9mm）、角度（高達180mRad）和功率（無濾波片10µW-5mW） 精確度：低至0.1µm分辨率@50Hz數字濾波器，位置測量：±15µm和低至0.005µm分辨率，角度測量：±0.125mRad
    更新日期：2024-11-14型號：廠商性質：代理商瀏覽量：634
  • 線光源測試設備
    線光源測試設備 線激光測試系統(LLPS)是一個用于分析長度高達200mm和寬度為55μm的線激光器解決方案。通過使用50/200mm線性位移臺，搭載DataRay的旗艦WinCamD-LCM4光束分析儀，這款功能完備、開放式軟件的設備將顯示出激光線強度分布的完整圖像，以及垂直質心圖、線寬圖和其他一些有用的測量結果。
    更新日期：2024-11-14型號：廠商性質：代理商瀏覽量：575
  • 大尺寸光斑分析儀-200mm
    大尺寸光斑分析儀-200mm 大尺寸光斑分析儀，檢測200mm成像區域，成套系統包含：WinCamD-LCM CMOS光斑分析儀，成像透鏡，透射式屏幕組件。
    更新日期：2024-11-14型號：廠商性質：代理商瀏覽量：614
  • dataray
    dataray提供靈活的M2測試配套儀器，可按照客戶的激光參數選擇50mm或則200mm行程的掃描移位臺，可搭載他們全系列的光斑分析產品/Beam R2組合而成M2分析儀。位移臺搭載BeamR2掃描刀口分析儀。
    更新日期：2024-11-14型號：廠商性質：代理商瀏覽量：728
  • BeamMap2 XYZΘΦ 掃描狹縫光斑分析儀
    BeamMap2 XYZΘΦ 掃描狹縫光斑分析儀 DataRay的BeamMap2代表了一種*不同的實時光束輪廓分析方法。它允許在光束行進的多個位置進行測量，從而擴展了Beam'R2的測量功能。這種實時狹縫掃描系統在旋轉的圓盤上的多個z平面中使用XY狹縫對，以同時在四個不同的z位置測量四個光束輪廓。 BeamMap2*的zhuan利設計對于實時測量焦點位置，M2，光束發散和指向zui為便利。
    更新日期：2024-11-14型號：廠商性質：代理商瀏覽量：910
  • Beam’R2 XY 掃描狹縫光斑分析儀
    Beam’R2 XY 掃描狹縫光斑分析儀 DataRay的Beam'R2非常適合許多激光光束輪廓分析應用。利用標準的2.5μm狹縫和較大的刀口狹縫，Beam'R2能夠測量直徑小至2μm的光束。利用Si和InGaAs或擴展InGaAs的選件，Beam'R2可以對190 nm至2500 nm的光束進行輪廓分析。掃描狹縫光斑分析儀提供比基于相機的系統更高的分辨率
    更新日期：2024-11-14型號：廠商性質：代理商瀏覽量：522
  • TaperCamD-LCM大尺寸CMOS光束分析儀 25mm
    TaperCamD-LCM大尺寸CMOS光束分析儀 25mm TaperCamD-LCM具有25 x 25 mm的大有效面積，4.2 M像素，12.5 x 12.5μm（有效）像素，光學和電子觸發全局快門以及2500：1的SNR，可提供最da的有源傳感器面積。
    更新日期：2024-11-14型號：廠商性質：代理商瀏覽量：538
  • BladeCam-HR/XHR 0.5英寸 CMOS 光斑分析儀
    BladeCam-HR/XHR 0.5英寸 CMOS 光斑分析儀 高分辨率和高度緊湊的BladeCam™光束輪廓儀的像素尺寸為3.2μm，厚度僅為0.65英寸（16.5毫米），可集成到光學系統和OEM應用中。軟件功能齊全，可高度定制，且不收取許可費用，無限制安裝和免費軟件更新。非常適合以下應用：CW激光輪廓分析；激光系統的現場服務；光學組件儀器對準；光束漂移和記錄；研發; OEM集成；質量控制；和
    更新日期：2024-11-14型號：廠商性質：代理商瀏覽量：523
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